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  • SP26S系列半導體靜態(tài)參數測量系統(tǒng)
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SP26S系列半導體靜態(tài)參數測量系統(tǒng)
型號:SP26S2100H、SP26S3200H、SP26S3400H、SP26S8600H
品牌:新銳中科
價格:
描述:新銳中科功率器件靜態(tài)參數測試系統(tǒng),集多種測量功能?體,可以精準測量不同封裝類型功率器件(如MOSFET、BJT、IGBT,以及SiC、GaN第三代半導體等)的靜態(tài)參數,具有?電壓和?電流特性、μΩ級導通電阻精確測量、nA級漏電流測量能?等特點。?持?壓模式下功率器件結電容測試,如輸?電容、輸出電容、反向傳輸電容等。
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  系統(tǒng)概述:


  新銳中科功率器件靜態(tài)參數測試系統(tǒng),集多種測量功能?體,可以精準測量不同封裝類型功率器件(如MOSFET、BJT、IGBT,以及SiC、GaN第三代半導體等)的靜態(tài)參數,具有?電壓和?電流特性、μΩ級導通電阻精確測量、nA級漏電流測量能?等特點。?持?壓模式下功率器件結電容測試,如輸?電容、輸出電容、反向傳輸電容等。


  系統(tǒng)組成:


  新銳中科功率器件靜態(tài)參數測試系統(tǒng),主要包括測試主機、測試線、測試夾具、電腦、上位機軟件,以及相關測試配件等構成。整套系統(tǒng)采?新銳中科?主開發(fā)的測試主機,內置多種規(guī)格電壓、電流、電容測量單元模塊。結合專?上位機測試軟件,可根據測試項?需要,設置不同的電壓、電流等參數,以滿?不同測試需求。測試數據可保存與導出,并可?成I-V以及C-V特性曲線。此外,測試主機可與探針臺搭配使?,實現晶圓級芯?測試。

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