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半導(dǎo)體芯片老化測試：艾德克斯IT2700的"多通道+回饋式"創(chuàng)新解決方案

在半導(dǎo)體領(lǐng)域，電源管理芯片老化測試是評估器件可靠性和篩選潛在缺陷的重要環(huán)節(jié)，通過模擬極端工況加速芯片老化以暴露材料、工藝或設(shè)計中的薄弱點。隨著電子設(shè)備的不斷小型化和高性能的追求，半導(dǎo)體芯片在各種應(yīng)用場景中扮演著越來越關(guān)鍵的角色。為了避免芯片在長期運行過程中可能出現(xiàn)的性能下降、甚至失效等問題，進(jìn)行老化測試顯得尤為重要。

嵌入式設(shè)計參考解決方案

該一體化解決方案解決了大多數(shù)的嵌入式系統(tǒng)調(diào)試難題，是我們強(qiáng)烈推薦的系統(tǒng)。它基于5系列B MSO示波器構(gòu)建，包括軟件、探頭、遠(yuǎn)程協(xié)作軟件和正常運行時間保障包。

測試自動化/儀器高速接口

泰克將推出下一代高速接口(HSI)框架，與當(dāng)前的VXI-11以太網(wǎng)(VISA)連接相比，該框架將允許其客戶以2.5倍或更高的速度將數(shù)據(jù)從示波器傳輸?shù)接脩舻腜C。啟用后，您的示波器將自身作為高速接口服務(wù)器，允許遠(yuǎn)程客戶端(PC)以編程方式連接。

半導(dǎo)體器件及材料測試和試驗方案

深圳市萬博儀器儀表有限公司（簡稱：萬博）是由行業(yè)資深及專業(yè)的人員，根據(jù)國內(nèi)行業(yè)發(fā)展的測試需要而成立的，旨在為國內(nèi)客 戶提供更專業(yè)的產(chǎn)品測試解決方案。 萬博掌握了國內(nèi)外豐富的產(chǎn)品、技術(shù)和系統(tǒng)資源，保持了和各級工程師的密切交流，本著誠信、專業(yè)和服務(wù)的態(tài)度，幫助國內(nèi)的行業(yè)客戶選擇正確的、合適的測試方案或系統(tǒng)，提供增值的服務(wù)?！?/div>

光儲逆變器車載與電源電控ATE

光儲逆變器ATE車 載OBC/DCDC ATE 新能源汽車電控測試臺架 測試軟件 測試電源與測控板卡

電動車無線充電器自動測試系統(tǒng) Model 8000

航空航天和國防

醫(yī)療器械和系統(tǒng)解決方案

確保醫(yī)療器械和系統(tǒng)有效、安全且具有成本效益。醫(yī)療產(chǎn)品設(shè)計帶來一系列相關(guān)挑戰(zhàn)，包括嚴(yán)格的屏蔽要求、復(fù)雜的反饋系統(tǒng)、小巧的設(shè)備尺寸等等。您需要受信設(shè)備，以便測試和驗證從研發(fā)到生產(chǎn)階段的所有設(shè)計。

為客戶提供專業(yè)的醫(yī)療電子測試解決方案

由于物聯(lián)網(wǎng)的發(fā)展，醫(yī)療保健行業(yè)在過去的五年中贏得了長足發(fā)展的成就。對于醫(yī)療保健專業(yè)人員和患者來講，這種成就產(chǎn)生的優(yōu)點是毋庸置疑的。因此，所有茀蕨醫(yī)療保健設(shè)備和工具都應(yīng)該是智能的--數(shù)十個傳感器為客戶提供無線方式互相相連及相連到互聯(lián)網(wǎng)。

半導(dǎo)體測試方案

泰克及旗下吉時利品牌，提供從晶元到系統(tǒng)的專業(yè)半導(dǎo)體測試方案。包括半導(dǎo)體材料測試平臺、半導(dǎo)體工藝測試平臺、芯片設(shè)計測試平臺、芯片驗證測試平臺等。 半導(dǎo)體材料測試平臺包括： 針對晶元級半導(dǎo)體材料或半導(dǎo)體器件，泰克提供半導(dǎo)體參……

教育和教學(xué)實驗室

二維/石墨烯材料電阻率測試方案