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　　熱發(fā)射顯微鏡(Thermal EMMI)系統(tǒng)是通過(guò)接收故障點(diǎn)產(chǎn)生的熱輻射異常來(lái)定位故障點(diǎn)位置，當(dāng)被測(cè)物體高于絕對(duì)零度時(shí)，會(huì)不斷向外輻射電磁波，系統(tǒng)利用紅外探測(cè)器和光學(xué)成像物鏡接受被測(cè)目標(biāo)的紅外輻射能量分布圖形，并將其反映到紅外探測(cè)器的光敏元件上，從而獲得紅外熱像圖。這種熱像圖與物體表面的熱分布場(chǎng)相對(duì)應(yīng)，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)故障點(diǎn)的精確定位。

　　我們自主研發(fā)的Thermal EMMI系統(tǒng)，集成了多項(xiàng)高端技術(shù)組件，包括高靈敏度的紅外相機(jī)、多種倍率可選的顯微鏡鏡頭以及精確的高低壓源表等。這些組件共同賦予了該系統(tǒng)超凡的靈敏度、高精度的溫度測(cè)量能力以及無(wú)損故障定位的特性。在半導(dǎo)體芯片、先進(jìn)封裝技術(shù)、功率電子器件以及印刷電路板(PCB)等領(lǐng)域的失效分析過(guò)程中，Therma EMMI系統(tǒng)發(fā)揮著舉足輕重的作用，它不僅能夠快速準(zhǔn)確地定位故障點(diǎn)，還能有效提升產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性，是電子工業(yè)中不可或缺的精密檢測(cè)工具。